检测方法：

超高频法和超声波法检测。

超高频检测法可有效检测GIS内部的由悬浮颗粒、导体和壳体上的突起、盆式绝缘子内部绝缘缺陷等原因引起的局部放电。超高频传感器的检测频率范围：300MHz～1.5GHz，由于检测频率高可有效的避免现场干扰。

超声波检测法可以检测、识别和定位GIS中的局部放电故障或振动的微粒，不需要预先在GIS上安装内部耦合器和传感器。